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      光譜儀原理

      光譜分析法之X射線熒光光譜法

      更新時間:2018-07-04 08:21:20 點擊數:2071

      光譜分析法之X射線熒光光譜法

      X射線熒光光譜法是介于原子發射光譜( AES)和原子吸收光譜( AAS)之間的光譜分析技術,又稱X射線次級發射光譜分析。X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。具有譜線簡單,基體影響小,選擇性高,測定范圍寬等優點??蓪υ有驍荡笥?的所有元素作無損分析。

      電子探針微區分析可分析原子序數大于4的所有元素。當照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時 ,核的內層電子共振吸收射線的輻射能量后發生躍遷,而在內層電子軌道上留下一個空穴,處于高能態的外層電子跳回低能態的空穴,將過剩的能量以X射線的形式放出,所產生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內殼層電子的能級差,即原子特定的電子層間躍遷能量。

      只要測出一系列X射線熒光譜線的波長,即能確定元素的種類;測得譜線強度并與標準樣品比較,即可確定該元素的含量。


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